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XRF镀层测厚仪FT110AFT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合严苛标准。[详细] |
同步热重分析仪 NEXTA STA日立的STA（同步热重分析仪）能在一台装置中同时进行DSC和TGA（热重分析仪）的测量。STA用于通过TGA数据评价热阻、分解温度和组件定量分析，也用于DSC试验、用DSC数据进行比热容试验。我们的Real View试样实时观察系统能够为分析提供独特见解[详细] |
热机械分析仪 TMA7100 & TMA7300日立的TMA（热机械分析仪）用于评价样品在宽温度范围内的膨胀或收缩。此类参数对设计工程师而言至关重要，我们的TMA分析仪也用于质量保证或出厂检验，以确保客户产品精确地符合规格。日立的多功能TMA还可在一台仪器中执行其他分析任务，如蠕变测量、应力松弛测量、热收缩 - 应力测量、应力 - 应变曲线以及动态热机械分析仪测量。[详细] |
动态热机械分析仪NEXTA DMA200动态热机械分析仪（DMA）技术提高了测量玻璃化转变、材料硬度以及频率对机械特性影响的灵敏度。它测量材料的粘弹性。DMA分析仪对于应用研究和材料开发领域的产品工程师来说是可靠的，它为简单和复杂材料的机械性能提供精确的测量[详细] |
菲希尔XAN500型便携式X射线荧光镀层测厚仪Fischerscope X-RAY XAN500 是一款便携式的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，适用于质量控制、进料检验和生产流程监控。它可以实现对大型工件的镀层测量、合金材料分析等任务，并具有高精度和稳定性。配备硅漂移探测器和完全基本参数法，无需校验标准片即可分析样品成分和测量镀层厚度。此外，还可选配便携式智能箱，方…[详细] |
菲希尔XUL220型X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款专为质量控制设计的X射线荧光镀层及材料分析仪，适用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。其设计紧凑且用户界面友好，具有高计数率和高精度测量能力，并配备手动XY轴工作台、大测量室、高分辨率CCD摄像头和可调LED光源等特性，适合在各种工业环境中进行测量和分析。[详细] |
菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是广泛应用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析的能量色散型X射线仪器。该系列基于FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B发展而来，具有全自动检测能力，特别适合质量控制、进料检验和生产流程监控。采用完全基本参数法，无需标准片即可测量元素从氯至铀。提供多种型号以适应不同需求，包括固定式和马达驱动的…[详细] |
菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220是一款专为印制电路板镀层厚度及成分分析设计的耐用型测量仪，具有高精度和稳定性。该设备采用微聚焦X射线管和比例接收器，无需标准片校正即可分析固、液态样品。配备电动切换准直器和基本滤片，确保测量条件优化。其用户友好界面、高精度XY平台、激光点定位和高分辨率摄像头使其操作简便高效，适…[详细] |
菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪XDV-SDD是一款广泛应用于测量和分析超薄镀层及痕量元素的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它配备有高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和Z轴升降台，支持全自动测量样品。该仪器界面友好，操作简便，通过WinFTM®软件可实现测量数据的计算和展示。此外，它还具备多元素同时测定能力，并提供额外的技术咨询与定制服务。
X射…[详细] |
菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是专为微小部件及复杂镀层结构的无损分析与测量设计的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。采用多毛细孔X射线光学系统和硅漂移接收器，确保了高精度和灵敏度。该仪器具有电动切换基本滤片和马达驱动的工作台，可编程运行，配备高分辨率摄像头和激光定位，便于精确对位和测量。其完全基本参数法允…[详细] |
菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是专为测量超薄镀层和微含量设计的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。该系列有多种型号，包括固定式和可手动操控的工作台选项，并配备马达驱动的Z轴升降系统和可编程X/Y工作台。XDLM系列拥有4个可切换准直器、3种可切换基本滤片，采用比例接收器，适用于质量控制和生产监控。
FISCHERSCOPE X-RA…[详细] |
