24小时服务热线
138-6239-9796
菲希尔XUL220型X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款专为质量控制设计的X射线荧光镀层及材料分析仪，适用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。其设计紧凑且用户界面友好，具有高计数率和高精度测量能力，并配备手动XY轴工作台、大测量室、高分辨率CCD摄像头和可调LED光源等特性，适合在各种工业环境中进行测量和分析。[详细] |
菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是广泛应用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析的能量色散型X射线仪器。该系列基于FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B发展而来，具有全自动检测能力，特别适合质量控制、进料检验和生产流程监控。采用完全基本参数法，无需标准片即可测量元素从氯至铀。提供多种型号以适应不同需求，包括固定式和马达驱动的…[详细] |
菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220是一款专为印制电路板镀层厚度及成分分析设计的耐用型测量仪，具有高精度和稳定性。该设备采用微聚焦X射线管和比例接收器，无需标准片校正即可分析固、液态样品。配备电动切换准直器和基本滤片，确保测量条件优化。其用户友好界面、高精度XY平台、激光点定位和高分辨率摄像头使其操作简便高效，适…[详细] |
菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪XDV-SDD是一款广泛应用于测量和分析超薄镀层及痕量元素的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它配备有高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和Z轴升降台，支持全自动测量样品。该仪器界面友好，操作简便，通过WinFTM®软件可实现测量数据的计算和展示。此外，它还具备多元素同时测定能力，并提供额外的技术咨询与定制服务。
X射…[详细] |
菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是专为微小部件及复杂镀层结构的无损分析与测量设计的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。采用多毛细孔X射线光学系统和硅漂移接收器，确保了高精度和灵敏度。该仪器具有电动切换基本滤片和马达驱动的工作台，可编程运行，配备高分辨率摄像头和激光定位，便于精确对位和测量。其完全基本参数法允…[详细] |
菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是专为测量超薄镀层和微含量设计的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。该系列有多种型号，包括固定式和可手动操控的工作台选项，并配备马达驱动的Z轴升降系统和可编程X/Y工作台。XDLM系列拥有4个可切换准直器、3种可切换基本滤片，采用比例接收器，适用于质量控制和生产监控。
FISCHERSCOPE X-RA…[详细] |
菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是一款高性能、紧凑型的X射线荧光镀层及材料分析仪，适用于无损测量细小工件的镀层厚度和材料分析，尤其适合质量控制、来料检验及生产过程中的测量需求。该设备配备手动XY轴工作台，具备4个可切换准直器、3个可切换基本滤片以及高分辨率CCD彩色摄像头等先进功能。FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能…[详细] |
菲希尔CMS2/STEP库伦仪COULOSCOPE® CMS2及CMS2 STEP是基于库仑法测量金属镀层厚度的仪器，符合DIN EN ISO 2177标准。CMS2适用于多种镀层结构，提供简便操作和自动化选项，适合电镀行业生产监控和质量检验。CMS2 STEP特别增加了STEP测试功能，用于同时测定多层镍的镀层厚度和电位差，满足汽车等行业对多镀层系统质量控制的需求。这两种仪器均支持多种语言…[详细] |
