特点与优势
● 2套X射线源，测试能力更全面强大
● 配备平板探测器和线阵探测器，满足多样化测试需求
● 通过螺旋扫描、偏置扫描进一步扩展成像区域
● 扫描过程简单、快速重建成像，可编程扫描工艺保证批量样件测试的一致性和便捷性
● 专用算法增强图像清晰效果，获得优质图像质量
技术指标
分辨率
细节分辨率 | 30μm | 0.5 μm |
X射线源
类型 | 闭管 | 开管 | ||
电压 | 600KV | 500KV/450KV | 300KV | 240KV/225KV |
焦斑尺寸* 0.7mm @0.7kW 2.0mm @1.5kW | 焦斑尺寸* 0.4mm @0.7kW 1.0mm @1.5kW | JIMA 分辨率 3 μm | JIMA 分辨率 2 μm | |
平板探测器**
成像面积 | 427mm×427mm |
像素矩阵 | 3072×3072 |
样品
可检测样品尺寸 | 800mm×1100mm(直径×高度) |
样品承重 | 100Kg |
设备物理参数
设备尺寸 | 3700mm×2300mm×2800mm(长×宽×高) |
设备重量 | 35000kg~60000kg |
可根据需求配置硬件和软件
焦斑尺寸*: 符合 EN 12543
探测器**: 其他可选尺寸，如400mm×400mm, 302mm×249mm等
