产品介绍

XRF镀层测厚仪FT110A

XRF镀层测厚仪FT110A
详细介绍

FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合严苛标准。

准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心,而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用,提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材,将全天候支持您的设施满足行业电镀规范。

FT110A
元素范围 Ti – U
探测器 正比计数器系统
样品舱设计 开闭式或开槽式
准直器数量 2 或 4
最小准直器 0.025 x 0.4 mm
XY轴样品台选择 程控或固定
XY轴样品台行程 250 x 200 mm
程控Z轴行程 150 mm
最大样品尺寸 500 x 400 x 150 mm
样品聚焦 聚焦激光和可选的自动聚焦
样品视图 摄像头视图和可选的第二广角摄像头
测量点识别 可选
软件 X-ray Station